verfügbaremikroskopiemöglichiteen.
- 凡尔西迪丁Optische lichtmikroskope.
- 雷- Rasterelektronenmikroskopie.
- TEM- 传输IISEREKTRONENMIKROSKOPIE.
- edrs.- EnergiedispersiveRöntgenspektroskopie
- 微型FTIR.- Fourier-TransformationsInfrarotspektroskopie
- SWLIM- Weißlichtinterferenzmikroskopie.
- Konfokale Raman-Mikroskopie / Spektroskopie
Optische Lichtmikroskopie：
Die Klassifizierung und Idendifizierung Kleiner Particel Beginnt Mit ihrer Mikroskopischen Beobachtung Mithilfe Einer Kombination Aus Durchlicht und Auflicht。durch das mikroskop照片FotografiertePartikelKönnenFüreinenberichtoderfürwerbunggemessen und Dargentellt Werden，Wensondere，Wenn Den Partikeln Einzigartige Merkmale Inewohnen。WirfügenÜberMehreereverschiedene varianten von lichtmikroskopenfüreforderlichenvergrößerungenzurbeobachtung ihrer探测器。
Rasterelektronenmikroskopie（REM）：
Wenn Ein Zweit Test Zur Bestigung Einer Lichtmikroskopischen BeobachtungBenötigtWird Oder Wenn Ein Partikel Opak Ist，Kann Es Mittels Elektronen A Stelle Von Licht Abgebildet und Analysiert Werden。Der Uncittelbare Deatschied Besteht Darin，Dass Die Von der Rem Produzierten Bilder在Grauskala Dargestellt Werden。Die Bilder LassenEiefenschärfeundendenuigkeiterkennen，Die de de demZusätzlichen奖金，Dass Beim Beschuss der Probe博士Erzeugt Werden eRzeugt Werden，DireRepräsentativFürIeD在Der Probe Vorhandenen Elemente Sinde Sinde。DECCH HINZUNAHME EINESENERGIEDISPERSINGRÖNTGENSPEKTROMERS（EDRS）WIRD DIE BESTIMMUNG DER IN DER PROBEVORHENENENELEMENEWährendder AbbildungErmöglicht。
Transmissionselektronenmikroskopie（TEM）：
partikel，die zu klein sind，um durch lichtmikroskopie oder rasterektronenmikroskopie analyer und abagebildet zu werden，erfordern ein transmissionselektronenmikroskop。Beidünnschliffenkönnendie tem-bildgebungsverfahren die Kristalline Struktur des Partickels Sowie Dessen ElementZusammensetzung Erkennen Lassen（EDS）。Tone，PigmentPartikel，Dünnfilmeundanderepartikel在NanomergrößeKönnenMitder Tem Analysiert und Identifiziert Werden。Manche Werkstoffe WieDünneMineralfasern，Tonpartikel undRußbenötigenSehrWenigVorbereitung。Andere Erfordern Vor Der Dargegen Eine Erhebliche Probenvormvormvormercientung。
微傅里叶变换infrarotspektroskopie（ftir）：
Partikel Aus Kunststoff（Leicht Verformbar）KönnenMiteinem mikroskop Beschrieben Werden，Das Mit Auflicht und Durchgelassenem Infrarotlicht Arbeitet。PolymentwerkstoffeKönnenFür死于FTIR entsprechend verden。Das Custyerende Infrarotspektrum Kann Mit Tausenden von Regurezpektren verglichen und so der polymertyp bestimmt werden。ProduktionsStätten，北丹恩·戈埃伦特里奇UnerwünschtePartikel在Den Endprodukten Auftreten，Führeneine Internee Handbibliothek Mit Infrarotspektren，Mit der Sie Die在Ihren Prozessen Verwendeten Werkstoffe Identifizieren，Damit Kundenretouren Leichter BeschrienbenWerdenKönnen。
weißlichtinterferenzmikroskopie（swlim）：
Die Charakterisierung vonOberflächenerfordert einen etwas anderen ansatz;Dabei Wird Ein Mikroskop Verwendet，Das DieOberflächenrauheit·毫安·德里多维维二维维米德维登·肯纳。Dieses Mikroskop Nutzt Auflicht-WeißlichtzumScannen der Fokusebenen，UM Einen DreidimensionalenteN Zu Erzeugen，Anhand DessenOberflächenrauheitsParameterBerechnetWerdenKönnen。Anders Als Die Stylus-Profilometrie Ist Swlim Ein Kontaktloses verfahren，Das Wenig Bis Gar Keine Probenvormvorbereitung Erfordert。