托尼·桑顿，Micromeritics技术信息总监

Micromeritics仪器公司推出了一系列新的二级标准，使其更容易在通过气体吸附表征表面面积时展示最高水平的数据完整性。可追踪到NIST(美国国家标准与技术研究所)或BAM(德国联邦统计局für Materialforschung und -prüfung)标准，新材料特别适用于高度规范的环境，如制药行业的分析。通过常规分析这些高度稳定、严格特征的标准，任何气体吸附系统的用户——Micromeritics或替代供应商——都可以有力地验证仪器的性能。

Micromeritics技术信息总监Tony Thornton表示:“气体吸附系统通过测量温度和压力等相对简单的参数来产生表面积数据，并且只需要最小的常规校准。”“然而，定期检查表现是一种很好的做法，我们已经提供了很好的材料来支持这一活动一段时间了。这些新参考材料的不同之处在于，它们是可追溯的，符合NIST/BAM标准，我们知道这一点对某些行业的客户至关重要。”

总之，Micromeritics将提供四种可追溯的二次表面积标准;其中一个已经到位，两个将在未来三个月释放，还有一个很快就会释放。这些标准的表面积范围为1到175平方米/克，因此可以选择与绝大多数工业应用相匹配的标准。每种材料都在多个仪器上进行了多次分析，包括该公司的Gemini、trstar、3-Flex和ASAP等系统，以获得全球平均结果。材料提供与此结果，相关的精度限制，和伴随的测试方法。标准品的鉴定期限为十年，个别样品瓶自开封后一年失效。

托尼·桑顿说:“这是我们想要推出的产品。”“我很高兴它现在可以买到，而且在未来很多年都可以买到。无论使用哪种气体吸附系统，质量管理人员都将特别欢迎这些新的参考材料来展示最高水平的数据完整性。”