입자시험기관（PTA）은업계에서가장광범위한입도분석기능포트폴리오를보유하고있습니다。
micromeritics의계약서비스에는어떠한분석분석문제응용분야별요구사항이라도해결할수있는지지상한기법에이포함되어있습니다。micromeritics의직원들은결과해석도움이되는경험과과학지식을보유있으므로고객적절한결정을내리는필요한데데에
실시가능한한
- 동적광산란（dls）을통한입도분석
- 정적광산란을통한입도분석
- x선침강기법
- 전기저항법
- 공기투과율입도분석법
- 체분석
- SEM - 주사전자전자현미경사
- 입자형상측정
- 광차폐법
- 제타전위전하반발측정
동적광산란（dls）을통한입도분석
이분석법은나노입자특성규명에사용되며，동적광산란은액체현탁액용액에서입자의브라운운동으로산란되는빛의세기변화측정되는를세기세기를하여입도를합니다。입자가클수록브라운운동이느려집니다。이방법은정적광산란측정입자입자가더높은용액에서선호됩니다。
사용가능한한：
- nanoplus hd.
정적광산란을통한입도분석
레이저광산란기법은및fraunhofer이론을이용하여광산란패턴입도분포를결정합니다。입자가작을수록굴절및흡수율이정적광산란패턴에더큰영향을줍니다。일반적인측정범위는0.02um〜2000um입니다。
사용가능한한：
- Micromeritics Saturn高分辨率数字化器
- Malvern Mastersizer 3000.
- Malvern Mastersizer 2000.
x선침강기법
x매질에서가라앉을을을되는을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을을〖〗이방법은은분포가좁은곳에서탁월한분해능을제공합니다。측정범위는0.1um〜300um입니다。
사용가능한한：
전기저항법
일반적으로库尔特원리로알려진전기저항법은작은오리피스를사이에둔전해질에잠긴두전극사이에만들어진전기회로를이용합니다。입자가전해질의흐름에오리피스를통과할때입자부피에비례하는전기가생성생성。이기법은은용액에서입자를계수하여입도및입자농도를측정하는데사용됩니다。
입도범위는0.5um〜300um입니다。
이방법은보다확립된광기술에대한직교방법접근방식이며탁월한광기법과이입자의형상과형상과광학적특성특성을받지
사용가능한한：
- Micromeritics Elzone II 5390
공기투과율입도분석법
이기법은충진된분말층에서압력압력원리를이용합니다。시료의이를를하여이에따른따른층의의으로써으로써으로써방정식에따라평균표면적입도를압력와유속의로서결정압력와수SAS는0.2μm〜75μm범위범위의의를하며압축정확도0.05mm미만입니다。이방법은설정된fisher수와동일한상관관계를갖는를생성합니다。
사용가능한한：
- Micromeritics SAS Sabive AutoSizer
체분석
입자를수평또는수직방향으로교반합니다。이렇게하면입자가체의망에남거나통과됩니다。00입경측정범위는45um〜10mm입니다。
사용가능한한：
-
- Tyler Ro-Tap Rx-29
SEM - 주사전자전자현미경사
SEM은은집속빔사용하여확대된이미지를를형성하는분석도구도구높은공간해상도의표면형상및조성정보를실시간분석으로얻을수있습니다。SEM에의한이미지분석으로응집에서개별있으며，사용가능한한있으며를통해처리하면입자자체분포의의적인이측정능측정이가능능。
사용가능한한：
입자형상측정
입자형상효과는잉크와토너의및분무패턴，연마효율성및생체이용률같은최종최종의성능매개변수중요한한을미치는경우경우경우경우경우경우경우경우경우경우경우。
이러한분석기법들은입자입자가구형이라는것을전제하기때문에（실제로는아니지만）
micromeritics분석분석는광학현미경，주사전자현미경동적이미지분석을사용하여하여매개변수매개변수를합니다。
동적이미지분석은고해상도CCD카메라를사용하여검출영역을통과하는입자의이미지를캡처하는자동화된기술입니다。이이이미지가캡처되면되면다른형상매개변수적용하여입도분포를계산수수수수수
사용가능한한：
- Phenom Pro Desktop SEM
- 微粒系统粒子洞察力动态图像分析仪
- 광학현미경
광차폐법
이기술은액체현탁액내의된된농도를이용합니다。현탁액을레이저광원과검출기사이로통과시킵니다。아이저가흐름내의개별입자를비추면에그림자가생기거나빛이차단됩니다。이빛의차단을차폐라고합니다합니다。검출기는이광도의감소를측정검량선사용하여하여입자도시료의농도를결정하기신호를처리합니다입도범위는0.5〜400마이크로미터미터。
이기법기법은사액액내미립자를검출하기위한위한방법방법<788>및<789>에에유용합니다。
사용가능한한：
- 粒度尺寸系统指责仪模型770
제타전위전하반발측정
제타전위는입자사이의정전기또는전하반발/인력크기의척도입니다。제타전위는액체의특성과입자의특성에따라달라집니다。용액또는유화액의집합성안정성을결정하는데중요한역할을합니다。제타전위가클수록，반발력이강해지고시스템이더안정화됩니다。
사용가능한한：
- Nanoplus HD-3