新的表面积参考材料，以支持常规测量的示例性质量保证
特别是在高度监管环境中分析托尼·桑顿技术信息Microseritics仪器公司的Micromericics总监介绍了新的二级标准，这使得当通过气体吸附表征表面积时更容易展示最高水平的数据完整性。追溯到NIST（国家标准和技术研究所）或BAM（BundesanstaltFürmementforschung...
特别是在高度监管环境中分析托尼·桑顿技术信息Microseritics仪器公司的Micromericics总监介绍了新的二级标准，这使得当通过气体吸附表征表面积时更容易展示最高水平的数据完整性。追溯到NIST（国家标准和技术研究所）或BAM（BundesanstaltFürmementforschung...