可用的微观功能
- 各种各样的可见光显微镜
- 扫描电镜-扫描电子显微镜
- TEM-透射电子显微镜
- EDS-能量色散x射线光谱学
- 显微红外光谱-傅里叶变换红外光谱
- SWLIM-扫描白光干涉显微镜
- 共焦拉曼显微镜/光谱学
光学光学显微镜:
小粒子的分类和识别始于利用透射光和反射光的显微镜观察粒子。用显微镜拍摄的粒子可以被测量和展示，特别是当粒子具有独特的特性时。我们有几种不同的光学显微镜，以满足观察您的样品所需的放大率。
扫描电镜(SEM):
当需要进行第二次测试来确认光学显微镜的观察结果时，或者当一个粒子不透明时，可以用电子而不是光来成像和分析粒子。直接的区别是，扫描电镜产生的图像是灰度级的。这些图像显示了优于光学显微镜的景深和细节，还有一个额外的好处，即当电子轰击样品时，产生的x射线代表了样品中存在的元素。通过添加能量色散x射线光谱仪(EDS)，它能够在对样品成像时确定样品中存在的元素。
透射电镜(TEM):
太小而不能用光学显微镜或扫描电子显微镜分析和成像的粒子必须用透射电子显微镜观察和分析。对于薄的样品或可以做成薄的样品，TEM成像技术可以揭示粒子的晶体结构及其元素组成(EDS)。粘土、颜料颗粒、薄膜和其他纳米大小的颗粒都可以在TEM中进行分析和识别。有些材料，如薄矿物纤维、粘土颗粒和烟灰，只需要很少的准备就可以进行分析。其他材料在分析前需要大量的样品准备。
微傅里叶变换红外光谱(FTIR):
塑料颗粒(容易变形)可以用一种利用反射和透射红外光的显微镜来描述。需要进行表征和鉴定的高分子材料可用于制备FTIR。由此产生的红外光谱可以与成千上万的参考光谱进行比较，以确定聚合物的类型。偶尔在成品中出现不良颗粒的生产设备将保留一个红外光谱参考库，用于识别其生产过程中使用的材料，以帮助描述客户退货情况。
扫描白光干涉显微术:
表面的表征需要一种稍微不同的方法，使用显微镜可以测量表面粗糙度，并提供表面的三维图像。该显微镜利用聚焦时反射的白光来创建一个三维数据集，由此可以计算表面粗糙度参数。与手写轮廓术不同，SWLIM是一种非接触技术，很少或不需要样品制备。