粒子测试金博宝188欢迎您机构(PTA)在行业中拥有最广泛的粒子粒度能力组合
我们的合同服务包括超过6种不同的尺寸技术，以解决您可能遇到的任何颗粒尺寸挑战或应用特定的需求。我们的员工有丰富的经验和科学知识来帮助您解释结果，以便您有丰富的数据来做出适当的决定。
可用的测试
- 动态光散射法测定颗粒尺寸
- 通过静态光散射粒子尺寸
- x射线沉降技术
- 电气传感区
- 透气性颗粒分级
- 筛子的分析
- SEM-Scanning电子显微镜
- 颗粒形状测量
- 光线昏暗
- Zeta电位电荷斥力测量
动态光散射法测定颗粒尺寸
用于纳米粒子的表征，动态光散射通过测量在液体悬浮或溶液中漫射粒子的布朗ain运动散射光的强度变化来确定粒子的大小。粒子越大，布朗运动越慢。比静态光散射测量更适合高颗粒浓度的溶液。
可用的工具:
- NanoPlus高清
通过静态光散射粒子尺寸
激光散射技术利用Mie和Fraunhofer理论从光散射模式确定颗粒大小分布。颗粒越小，折射和吸收对静态光散射图的贡献越大。典型的测量范围是0.02微米到2000微米。
可用的工具:
- 微meritics土星高分辨率数字化仪
- 莫尔文Mastersizer 3000
- 莫尔文Mastersizer 2000
x射线沉降技术
x射线沉降技术利用了颗粒在通过液体介质沉降时按大小分离的自然趋势。每种尺寸的质量分数由软x射线的吸附量决定。这种方法在粒径分布较窄的地方产生极好的分辨率。测量范围为0.1 um至300um。
可用的工具:
电气传感区
电感应区法通常被称为库尔特原理，它采用了在小孔两侧浸入电解液的两个电极之间创建的电路。当电解液的流动使颗粒通过孔板时，产生与颗粒体积成比例的电信号。该技术既可用于测量颗粒大小，也可通过计数溶液中的颗粒来确定颗粒浓度。
粒度范围为0.5 ~ 300um
这是一个很好的方法作为一个正交的方法更建立的光散射技术和不受形状和光学性质的粒子与遮光技术。
可用的工具:
- Micromeritics Elzone II 5390
透气性颗粒分级
这种技术利用压降原理在粉末的填充床上。根据卡门方程，通过改变样品高度，从而改变床层的“孔隙度”，可以确定平均表面积和颗粒大小作为压降和流速的函数。SAS测量的粒径范围为0.2µm ~ 75µm，压缩精度小于0.05 mm。这种方法产生的结果与建立的费雪数一致。
可用的工具:
- Micromeritics SAS子公司自动施胶机
筛子的分析
颗粒受到水平或垂直的搅动。这种运动导致颗粒要么留在筛网孔上，要么通过。颗粒的通过取决于筛孔的大小，颗粒的方向和颗粒与筛面相遇的次数。颗粒直径测量范围为45um ~ 10mm。
可用的工具:
-
- 泰勒摇RX-29
SEM-Scanning电子显微镜
扫描电子显微镜是一种分析工具，它利用聚焦的电子束形成放大的图像。在实时分析中，可以获得高空间分辨率的地形和成分信息。扫描电镜图像分析可以从团聚体中分解单个初级颗粒，并通过可用的扫描电镜软件对颗粒本身以及颗粒分布进行直接测量。
可用的工具:
颗粒形状测量
颗粒形状效应通常对最终产品性能参数有重大影响，如油墨和碳粉的流动性和喷雾模式、磨料效率和生物利用度。
形状是一个特别重要的确定参数的粒子尺寸分析基于光散射和遮蔽方法，因为这些技术使用的基础上，所有的粒子是球形的，而不是实际情况。
Micromeritics分析服务使用光学显微镜，扫描电子显微镜和动态图像分析报告颗粒形状参数。
动态图像分析是一项自动技术，它使用高分辨率CCD相机在粒子通过检测区域时捕捉图像。一旦捕捉到这幅图像，我们可以应用不同的形状参数来计算颗粒大小分布。
可用的工具:
- Phenom Pro桌面SEM
- 颗粒系统颗粒洞察动态图像分析仪
- 光学显微镜
光线昏暗
这项技术适用于稀浓度的悬浮颗粒。悬浮液在激光光源和探测器之间通过。激光照亮粒子流中的单个粒子，在探测器上造成阴影或光线堵塞。这种光阻塞称为遮蔽。探测器测量光强度的减少，并使用校准曲线，处理信号，以确定颗粒的大小和样品的浓度。颗粒大小范围为0.5 - 400微米。
这项技术特别适用于USP方法<788>和<789>检测注射溶液中的微粒。
可用的工具:
- 颗粒分级系统格宾泽模型770
Zeta电位电荷斥力测量
ζ电势是粒子间静电或电荷斥力/吸引力大小的量度。Zeta势既取决于液体的性质，也取决于粒子的性质。它在决定溶液或乳液的总体稳定性方面起着重要作用。势越大，斥力越强，系统就变得越稳定。
可用的工具:
- NanoPlus HD-3